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TOKIO --(BUSINESS WIRE)-- 01.09.2026 --

JEOL Ltd. (Präsident und CEO: Izumi Oi) hat das Tisch-Rasterelektronenmikroskop (REM) „JCM-7000Plus“ entwickelt und wird am 1. September 2026 mit dem Verkauf beginnen.

Diese Pressemitteilung enthält multimediale Inhalte. Die vollständige Mitteilung hier ansehen: https://www.businesswire.com/news/home/20260825962063/de/

[Hintergrund der Entwicklung]

Tisch-Rasterelektronenmikroskope finden zunehmend Anwendung in Bereichen wie Elektrotechnik und Elektronik, Automobil- und Maschinenbau, Stahl und Metalle sowie Chemie und Pharmazie. Sie werden nicht nur in der Forschung und Entwicklung eingesetzt, sondern auch in produktionsbezogenen Anwendungen wie der Qualitätskontrolle und der Produktprüfung. Darüber hinaus kommen sie im Bildungsbereich an Mittel- und Oberschulen sowie an Universitäten zum Einsatz. Angesichts dieser vielfältigen Anwendungsbereiche wächst die Nachfrage nach verbesserter Betriebseffizienz, einer einfacheren und stärker automatisierten Bedienung sowie einer verbesserten Beobachtungs-, Analyse- und Messleistung.

Um diesen Anforderungen gerecht zu werden, haben wir die Landespannung (Beschleunigungsspannung) auf 20 kV erhöht. Dadurch wurde die Auflösung auf 6 nm verbessert, was Messungen bei höherer Vergrößerung ermöglicht.

Auf der Softwareseite behält das neue JCM-7000Plus die einfache, benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI) des aktuellen JCM-7000 bei, einschließlich Zeromag, das einen nahtlosen Übergang von der optischen Bildgebung zur REM-Beobachtung ermöglicht, sowie der Live-Analysis-Funktion, die eine Elementanalyse in Echtzeit während der Beobachtung erlaubt. Zudem wurde die erweiterte Automatisierungsfunktion Neo Action hinzugefügt.

Zusätzlich zu den drei bestehenden Live-Funktionen (Live Analysis, Live Map und Live 3D) haben wir zwei neue Funktionen hinzugefügt: Live Particle, das während der Beobachtung automatisch die Partikelgröße und -anzahl in Echtzeit misst, und Live Report, das während der Bewegung des Sichtfelds automatisch Daten erfasst und Berichte erstellt – eine Funktion, die in High-End-FE-SEMs verfügbar ist. Diese Funktionen vereinfachen Routineaufgaben, machen sie intuitiver und effizienter und unterstützen gleichzeitig die Analyseabläufe der Anwender erheblich.

[Hauptmerkmale]

1. Erweiterung der Landespannung auf 20 kV für eine verbesserte Auflösung (Sekundärelektronenbild: 6 nm, Rückstreuelektronenbild: 8 nm)

2. Verbesserter Rückstreuelektronendetektor für eine höhere Bildqualität

3. Die neue Live-Particle-Funktion misst automatisch Partikelgröße und -anzahl und vereinfacht so den Arbeitsablauf

4. Live Report ermöglicht die Datenerfassung und Berichterstellung während der Bewegung des Sichtfelds und verbessert so die Arbeitseffizienz

5. Beibehaltung der einfachen und benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche (GUI) mit zusätzlichen Automatisierungsfunktionen für eine intuitivere und einfachere Bedienung

[Absatzziel]

300 Einheiten/Jahr

[Weiterführender Link]

Produktinformationen: JCM-7000Plus NeoScope™ Tisch-Rasterelektronenmikroskop
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/jcm-7000plus.php

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